1. 微纳尺度材料器件表征量测（ Characterization&Metrology of Nanoscale Materials&Devices） 2. 铁电材料与铁电功能器件 (Ferroelectric Materials and Functional Devices) 3. 新型存储与神经形态器件技术 (Memory and Neuromorphic Device Technology) 4. 半导体电子器件与系统 (Semiconductors and Nanoelectronic Devices&Systems) 5. 纳米材料光电器件 (Optoelectronic Nanomaterials and Nanodevices)

王林，上海交通大学副教授，上海市海外高层次人才，IEEE高级会员，博士生导师。西安电子科技大学学士/硕士，法国里昂大学博士，在新加坡国立大学进行博士后研究，长期从事微纳尺度半导体的电学性质表征和电子器件应用研究，在Nature Communications、Advanced Materials、Advanced Functional Materials、ACS Nano、Nano Letters、IEEE Electron Device Letters、Applied Physics Letters等国际权威期刊和IEDM、VLSI会议发表文章60余篇，参与撰写领域著作2章。在MRS Fall Meeting、全国电子显微学学术年会、全国半导体与集成技术会议等重要学术会议上做邀请报告10余次。主持/参与国家自然科学基金委、法国国家科研署、新加坡科技研究局、美国应用材料公司-NUS联合实验室等多个国家级科研项目。